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Purwins, H.
,
A. Nagi
,
B. Barak
,
U. Hockele
,
A. Kyek
,
B. Lenz
,
G. Pfeifer
, and
K. Weinzierl
,
Regression Methods for Prediction of PECVD Silicon Nitride Layer Thickness
,
, 2011.
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